телефон/факс
Для заказа криогенных жидкостей
Телефон/факс
Для заказа криогенных жидкостей
Стоимость
Стоимость по запросу
Специальное предложение
Готово к отгрузке
Производитель
Кристалл иодида цезия, активированного таллием CsI (Tl) - один из самых ярких сцинтилляционных материалов, обладающий такими преимуществами, как высокая плотность, высокая тормозная способность гамма-излучения, хорошее энергетическое разрешение, высокая светоотдача, высокая эффективность обнаружения гамма- и рентгеновского излучения. Он не имеет плоскости спайности, хорошо поддается обработке, может быть изготовлен в различных формах. Кроме того, благодаря излучению в длинноволновой части спектра (>500 нм) он хорошо подходит для считывания фотодиодов. Кристаллы CsI (Tl) можно изготовить в виде линейных и двумерных матриц. Они находят широкое применение в системах безопасности, при неразрушающем контроле, инспекции пищевых продуктов и в других сферах приложения.
Компания OST Photonics поставляет линейные и двумерные матрицы CsI (Tl) в соответствии с требованиями клиентов. Как правило, в качестве отражателя между каждым отдельным пикселем (элементом) применяется диоксид титана (TiO2). Матрицы CsI(Tl) от OST Photonics обладают высоким разрешением и чувствительностью, что позволяет добиться превосходного качества изображения. Кроме того, также доступны кристаллические материалы CsI (Tl) с низким послесвечением в 0.05~0.39% при 20 мс. Кристалл CsI (Tl) с низким послесвечением не только сохраняет преимущество высокой светоотдачи стандартного кристалла CsI (Tl), но и в значительной мере подавляет послесвечение, эффективно решая проблему следа в системе сканирующего излучения и улучшая качество изображения. Такие матрицы идеально подходят для системы формирования изображения, требующей высокого качества и скорости сканирования.
| Материал | Толщина материала отражателя + связывающего вещества |
| TiO2 | ≥0.1 мм |
| Тефлон | 0.15 - 0.5 мм |
| Тип | Относительная светоотдача NaI (Tl) | Время затухания | Послесвечение |
| Стандартный | 45% | 1000 нс | 0.5~5% @ 6 мс |
| С низким послесвечением | 40% | 1000 нс | 0.05~0.39% @ 20 мс |
| Относительный световой выход NaI (Tl) | 40% с низ. послесвечением; 45 стандарт |
| Время затухания сцинтилляции (нс) | 1000 |
| Длина волны пика излучения (нм) | 550 |
| Показатель преломления (пиковая длина волны) | 1.80 |
| Плотность (г/см3) | 4.51 |
| Гигроскопичность | Слабая |
| Твёрдость (Мо) | 2 |
| Послесвечение | 0.05~0.39% с низким послесвечением @ 20 мс; 0.5~5% при стандартном послесвечении 6 мс |
| Световой выход (фотонов/кэВ) | 48 слабое послесвечение; 54 стандартное |
